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扫描开尔文探针
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扫描开尔文探针是一种非接触、非破坏性振动电容装置用于导电材料的功函或半导体或绝缘体材料表面的表面电势,表面功函由材料表面*顶部的1-3层原子或分子决定,因而开尔文探针是一种非常灵敏的表面分析技术,KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV业界**分辨率的测试系统

主要特点:

功函分辨率< 3meV

扫描面积:5mm to 300mm(四种型号,每种型号扫描面积不同)扫描分辨率:317.5nm

自动高度调节

应用领域:有机和非有机半导体金属薄膜太阳能电池和有机光伏材料腐蚀

升级附件:空气光发射系统表面光电压(QTH or LED)

● SPS表面光电压光谱(400-1000nm)

金或不锈钢探针,直径0.05mm to 20mm

相对湿度控制和氮气环境箱

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